X 射线荧光光谱法测定高硅硅酸盐岩石中的主次成分
为了提高硅酸盐岩石成分分析的精确度和操作效率，推动我国材料事业发展和地质工作深入发展，本文采取高温熔融制样的方法，用X 射线荧光光谱法对硅酸盐岩石中的主次成分进行分析，并通过添加高纯度二氧化硅的方式准备高硅硅酸盐标准样品。实验结果表明，高温熔融制成的玻璃熔片符合高硅硅酸盐岩石的检测要求，可用于实际测定。
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