基于ST2500平台的《集成电路测试技术》课程内容设置研究

—— 以“数字芯片的开短路测试”的教学为例

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Abstract

《集成电路测试技术》作为集成电路专业核心课程，其教学内容需紧密结合产业需求以培养高素质测试人才。本文以数字芯片开短路测试为例，对比通用仪器与自动测试设备（ATE）的测试流程，探讨高职院校课程实践内容设置。通用仪器测试效率较低，但适用于基础教学，可用于分立器件等基础器件测试；ATE 测试机通过自动化编程显著提升测试速度与精度，适合数字、模拟及混合芯片的进阶实践。

Keywords

集成电路测试技术

自动测试设备

实训设备

References

[1] 戴志坚, 韩熙利. 集成电路测试实验课程建设与人才培养[J]. 实验科学与技术,2022,20(05):56-60.
[2] 潘成亮, 夏豪杰, 黄亮, 等. 集成电路测试新工科人才产教融合培养模式探索与实践[J]. 高教学刊,2024,10(20):51-54.DOI:10.19980/j.CN23-1593/G4.2024.20.013.
[3] 罗宏伟, 刘竞升, 余永涛, 等. 超大规模集成电路测试现状及关键技术[J]. 电子产品可靠性与环境试验,2021,39(S2):16-20.
[4] 林颜章. 一种简易的集成电路开短路测试方案及教学实践—— 以技师学院电子专业教学为例[J]. 中国培训,2021,(12):54-55.DOI:10.14149/j.cnki.ct.2021.12.021.
[5] 蔡晓峰, 余凯, 陆逸敏, 等. 自动化测试机开短路测试系统搭建和应用[J]. 中国集成电路,2024,33(12):86-89.

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